日前，我校电子信息学院微电子学系研究生周洁同学的论文(Instability of p-Channel Poly-Si Thin-film Transistor under Dynamic Negative Bias Temperature Stress) 在新加坡召开的第17届国际集成电路物理及失效分析会议(17th International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits, IPFA2010) 上获得最佳论文奖（如图），为学校赢得了声誉。IPFA国际会议自1987年首次在新加坡举办以来，先后在亚洲各国和地区举办16届，至今已有23年历史，是集成电路失效分析（Failure Analysis, FA）和可靠性研究（Reliability Engineering, RE）领域国际上学术水平最高的学术会议之一。

    IPFA2010技术委员会从众多投稿论文中选取了40余篇优秀论文作为口头报告，再根据论文内容及报告表现从FA和RE两个技术领域分别评选出一篇最佳论文。经过激烈竞争，我校周洁同学的论文最终获评RE最佳论文。该论文由我校电子信息学院微电子学系王明湘教授指导，并与香港科技大学Man Wong教授合作完成。值得指出的是，本次获奖还是我校王明湘教授所在研究小组三年内第二次在国际学术会议上赢取最佳论文奖项（ICSICT2008获最佳学生论文奖）。
    依照IPFA国际会议的传统，该篇最佳论文将获得全额资助，代表IPFA2010作为交换论文受邀于今年10月在意大利举办的第21届欧洲电子元件可靠性、失效机制与分析会议（European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis，ESREF2010）上做大会报告。届时，周洁同学还将赴意大利出席会议。